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Actualité 1er juin

Le microscope JEOL ARM 200F, installé au GPM, est le premier de cette nouvelle génération de microscope électronique à transmission à très hautes performances de la société JEOL à être installé en Europe et le deuxième au monde. La version choisie pour la partie rouennaise de la plateforme technologique IRMA est optimisée pour l’analyse chimique à très haute résolution et la tomographie électronique.
Afin de saluer l’arrivée de ce microscope, MM. Shin-Ichi WATANABE et Shinsuke OGIWARA, respectivement Directeur des ventes monde de JEOL et Directeur général du département des ventes de JEOL, ont fait le déplacement depuis Tokyo.

Ils ont profité de l’occasion pour visiter le parc instrumental du GPM, en particulier en sondes atomiques, et rencontrer Alain MENAND, Directeur de l’IRMA, Philippe PAREIGE, Responsable scientifique de la partie Sonde Atomique de la plateforme technologique de l’IRMA, Cécile GENEVOIX, Responsable technique de la partie microscopie de la plateforme technologique de l’IRMA, ainsi que Xavier SAUVAGE et Williams LEFEBVRE, tous deux impliqués dans des projets en microscopie électronique et dans le choix du microscope.
 
L’inauguration officielle de ce microscope ainsi que celle du FIB ZEISS NVISION aura lieu le 3 novembre 2010.

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