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2010

Actualité 1er juin

Le microscope JEOL ARM 200F, installé au GPM, est le premier de cette nouvelle génération de microscope électronique à transmission à très hautes performances de la société JEOL à être installé en Europe et le deuxième au monde. La version choisie pour la partie rouennaise de la plateforme technologique IRMA est optimisée pour l’analyse chimique à très haute résolution et la tomographie électronique. Afin de saluer l’arrivée de ce microscope, MM. Shin-Ichi WATANABE et Shinsuke OGIWARA, respectivement (...)

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